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吉时利keithley KEITHLEY 4200-SCS型半导体特征分析系统
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吉时利keithley KEITHLEY 4200-SCS型半导体特征分析系统

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公司介绍
keithley吉时利4200-SCS的I-V特性测量:
keithley吉时利4200-SCS系统实现I-V测量功能的核心单元是SMU (源测量单元) ;
SMU集4种功能于- -体:电压源、电压表、电流源、电流表;
可以向器件提供驱动电压同时测量电流,也可以向器件提供电流并测量电压;
图形化的KITE软件可以轻松地设定测试条件,设定电压或电流,被测点数,保护电压或电流值,完成各种I-V参数测试;
SM的数量与被测器件的端口数有关,原则上有几个端口,就要配几个SMU。

一般来说,keithley吉时利4200-SCS系统的最基本的组成部分就是I-V部分,I-V测 试是最基本,最核心的测试内容,C-V测试,乃至脉冲I-V的测试都是其扩展部分,根据用户的经费情况和研究的器件类型。来对这个系统进行配置。

吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统主要特点及优点:
●直观的、点击式Windows操作环境
●独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
●用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
●集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
●内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
●独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环... [详细介绍]
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